X-50 手持式光谱仪
对于许多应用来说,“经典”型号具有很高的价值。
X-50采用PiN二极管技术,这是硅漂移探测器出现之前的上一代探测器。PiN技术处理的X射线速率比硅漂移探测器低10倍至20倍,并且分辨率低约70 eV(更大的宽度)。然而,对于许多应用,例如不锈钢,高温和铜合金的基本分选,或分析土壤,矿石,粉末等中的基质或重金属,PiN技术是令人满意的。X-50不会测量合金中的镁,铝或硅。对于某些材料,X-50可以在1%的水平上测量P和S。与 X 的 SDD 版本相比,检测限将高出 3 倍(升高)。但是,X-50对于运行良好的应用程序具有有吸引力的价格点。X-50包括与其他X型号相同的先进X射线管(最大工作电压为40 kV),集成摄像头,微距摄像头,视频和Android操作系统平台。X-50可用于合金,环境,采矿/勘探,贵金属,汽车催化剂,涂层以及用于工业和用户定制应用的经验应用程序。分析仪可以使用基本参数、康普顿归一化(EPA 方法 6200)或用户定义的经验校准进行工厂校准。
金属和合金
SS、高温和红金属的基本分选。仅按MLC和2000和7000对Al合金进行分类。
地球化学与土壤
与X-200相同的元件套件,但采用较旧的PiN二极管检测器技术。要达到与X-200相同的精度,测试时间将更长,但X-50平台的价格较低。
应用 | 最大船宽 1 (40 kV) | 最大船宽 2 (10 kV) | 最大船宽 3 (50 kV) |
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地质采矿 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb | 南, K, 加利福尼亚州 | 不适用 |
地质环境土壤 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb | 不适用 | 不适用 |
合金 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb | 不适用 | 不适用 |
贵金属 | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb | 不适用 | 不适用 |