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X-50手持式光谱仪

X-50手持式光谱仪采用PiN二极管技术,这是硅漂移探测器出现之前的上一代探测器。PiN技术处理的X射线速率比硅漂移探测器低10倍至20倍,并且分辨率低约70 eV(更大的宽度)。

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产品简介 / PRODUCT INTRODUCTION

X-50 手持式光谱仪

对于许多应用来说,“经典”型号具有很高的价值。

X-50采用PiN二极管技术,这是硅漂移探测器出现之前的上一代探测器。PiN技术处理的X射线速率比硅漂移探测器低10倍至20倍,并且分辨率低约70 eV(更大的宽度)。然而,对于许多应用,例如不锈钢,高温和铜合金的基本分选,或分析土壤,矿石,粉末等中的基质或重金属,PiN技术是令人满意的。X-50不会测量合金中的镁,铝或硅。对于某些材料,X-50可以在1%的水平上测量P和S。与 X 的 SDD 版本相比,检测限将高出 3 倍(升高)。但是,X-50对于运行良好的应用程序具有有吸引力的价格点。X-50包括与其他X型号相同的先进X射线管(最大工作电压为40 kV),集成摄像头,微距摄像头,视频和Android操作系统平台。X-50可用于合金,环境,采矿/勘探,贵金属,汽车催化剂,涂层以及用于工业和用户定制应用的经验应用程序。分析仪可以使用基本参数、康普顿归一化(EPA 方法 6200)或用户定义的经验校准进行工厂校准。

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金属和合金

SS、高温和红金属的基本分选。仅按MLC和2000和7000对Al合金进行分类。



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地球化学与土壤

与X-200相同的元件套件,但采用较旧的PiN二极管检测器技术。要达到与X-200相同的精度,测试时间将更长,但X-50平台的价格较低。





应用最大船宽 1 (40 kV)最大船宽 2 (10 kV)最大船宽 3 (50 kV)
地质采矿Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb南, K, 加利福尼亚州不适用
地质环境土壤Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb不适用不适用
合金Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb不适用不适用
贵金属Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb不适用不适用



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